这个放电量标准是中压电力电缆产品标准的测试要求，至于为何定为10PC，还真没有考虑过，跟着了解一下

电力电缆试验标准GB 12706 - 1991 规定了35kV 及以下交联电缆在45 kV 工频试验电压下,局部放电量(以下简称局放) 应小于20 pC ,而GB/ T 12706- 2002 规定局放量应小于10 pC ,可见要求越来越高,局放量越来越小,这反应了随着制造技术的发展对电缆的质量要求也越来越高。

据日本的研究报道,817/ 10 电缆在1.5U0 (运行相电压) 下的局部放电量,微孔尺寸200μm 时为0.4 pC ,400μm 时为3.4 pC ,700 μm 时为20pC。也就是说,如按原标准1.5U0 下局部放电量为20pC 的出厂试验指标考核,就可能将含700μm 微孔的电缆作为合格品出厂。目前最先进的电缆线路局放检测系统的灵敏度只能达到0.5 pC 级 ,况且该指标也只是视在放电量。可见,现有局放检测指标对检测< 200μm 的微孔已不够灵敏。而包含数十及数百μm 微孔的绝缘品质不能满足高压及超高压电缆线路的可靠性要求。现场多次报道运行几年至十几年含有数十及数百μm的杂质或水树(一种特殊的“微孔”或杂质) 的各种电压等级电缆线路发生击穿故障。

根据巴申定律:如果微孔尺寸< 1 μm ,因路径太短不可能局部放电。目前实际电缆制造水平可达5～20μm。故局放还可能存在,只是局放量很小,按现有检测技术和标准已无法测到。为更准确地检测交联电缆,新版的交联电缆产品标准改变很大。各电压等级交联电缆的IEC 标准最新版本和相应国家标准修改后的局放性能指标更严格: ①中低压电缆:出厂试验由原来的1.5U0 下局放量< 20pC ,改为1.73U0 下< 10 pC ;型式试验由1.5U0 下局放量< 20 pC ,改为1.73U0 下< 5 pC; ②高压电缆:出厂、型式试验不变; ③超高压电缆:出厂试验规定1.5U0 下,在10 pC 或更低背景噪声灵敏度下无
可分辨的局放;型式试验规定1.5U0 下,在5 pC 或更低背景噪声灵敏度下无可分辨的局放;一些先进国家(德国、瑞士) 的局放试验指标达到2U0 下< 5pC ,美国达到3U0 下< 5 pC ,4U0 下< 10 pC 等。

以上摘自期刊文献资料

以上资料  只是反映了局放和微孔尺寸间的关系 ，其实缺陷不止微孔一种。

所以， 为了提高质量， 有些厂家已经在提高测试标准，以比国标更严格要求来保证产品的质量。

从检测的角度， 要了解不是局放低于10PC就万事大吉， 要知道只要检测到局放说明电缆内部有缺陷存在 ，、

如果能够通过检测反映出来的数据 ，在许可条件下，进一步  优化产品生产工艺提高产品质量，对各方都有非常积极的意义。

这也是我在一个帖子里咨询大家目前厂里局放测试系统的背景干扰情况。大家不应该小于5pc就满足， 应该尽可能降低背景噪声干扰 

据日本有关研究报道,22 kV 交联电缆的微孔尺寸> 10μm 时,工频击穿电压Ub 开始下降, >100μm 时Ub 下降一半以上;另外,半导电层表面的突起对Ub 下降的影响比微孔杂质更大。

为此,新标准对绝缘缺陷的检测更严格。虽然IEC 标准未要求,但我国参照美国AEIC 标准作为型式试验项目列入了国家标准,而美国等先进国家的标准还将这些检测项目列作出厂试验项目。新版AEIC 标准及相应的国家标准修订稿提高了对绝缘缺陷的尺寸要求。如110 kV 级电缆由无> 76μm 的微孔提高为无> 50μm 的微孔,其它指标也都相应提高,因交联电缆产品(本体及附件) 的质量特别其长期性能,本质上是由绝缘缺陷的尺寸决定。
另外,耐压试验指标也更加严格,中低压电缆出厂试验由原来的2.5U0 改为3.5U0 ,型式试验由原来的3U0 ,4 h ,改为4U0 ,4 h

以上摘自期刊文献资料

另外要注意视在放电量和实际放电量的区别， 我们测到的是视在放电量， 实际放电量是不可测的，而对于电缆来说两者有非常大的区别，简单示例如下（公式这里写起来比较复杂，算得过程不写了，不一定准确，仅供参考）：

同一体积的缺陷,在不同的绝缘厚度中,所受场强相同的前提下,表征的视在放电量相差很大的。如果按照GB1101722002 中规定的微孔不大于0. 05 mm 的要求,假设110 kV 的绝缘厚度为17 mm ,则可得出300 Cb≈ Cg , k≈1/300 ,即我们所测试到的放电量只是真正放电量的1/300。微孔越小,其k 越小。理论上来讲如果所测得的放电量为1pC时,真正的内部放电量大约在300pC。

这也是为什么我们对电缆的局放要求定的这么高的原因之一。而且随着电压等级越高，局放要求越高

再想不明白就想想为什么1+1=2行了

呵呵~~

谢谢了哦

不错

很值得学习