编织外导体银层厚度对衰减的影响

下面以RG同轴电缆为例进行分析，改变外导体的银层厚度，变化使用频率从而计算出银层厚度对衰减常数的影响。

α=【2.61（fεd）^∧1/2】/lg【（D+1.5dw）/K₁d】×（K2Kρ1/d +KbKρ2/D）+9.10f（εd）^∧1/2tgσ×10^-8

一、当频率为30MHz

银层厚度为0.5μm时

α=0.146796

银层厚度为1μm时

α=0.146719

银层厚度为2μm时

α=0.146140

二、当频率为200MHz

银层厚度为0.5μm时

α=0.382222

银层厚度为1μm时

α=0.382020

银层厚度为2μm时

α=0.380526

三、、当频率为3000MHz

银层厚度为0.5μm时

α=1.538321

银层厚度为1μm时

α=1.537547

银层厚度为2μm时

α=1.458796

结论：从上面计算的三组数据可以看出改变外导体的镀银厚度，随着镀银层厚度增加，衰减常数逐渐减小。

不是说频率越高对镀层的厚度要求越低吗

为什么3000MHz时,2μm和1μm差这么多?

做过的，这是实践经验