高频下同轴电缆的衰减：

α=2.61*(f*ε)^0.5*(K2*Kρ1/d+Kb*Kρ2/D)*10^(-3)/lg((D+1.5*dw)/(K1*d))+9.10*f*ε^0.5*tgδ*10^(-5)(分贝/公里)

f：频率（Hz）
ε：绝缘相对介电常数（实心PE - 2.3；PVC - 5~7；Nylon - 3.5；Paper - 2.0~2.6；PP - 2.6；FEP - 2~2.2；空气 - 1.0）
D：绝缘外径（mm）
d：内导体直径（mm）
tgδ：绝缘介质损耗角正切值（空气 - 0；PE - 0.0005；PVC - 0.05；FEP - 0.0002；Nylon - 0.009；PP - 0.0007）
K1：内导体直径系数
K2：内导体衰减的绞线系数
Kb：外导体为编织是引起高频电阻增大的编织效应系数 = 1.5+0.083*D
Kρ1：内导体相对于国际标准软铜的高频电阻增大或减小的系数
Kρ2：外导体相对于国际标准软铜的高频电阻增大或减小的系数
dw：编织用导线直径（mm）

第一项为金属损耗造成的衰减，第二项为介质损耗造成的衰减，频率超过几兆赫时不大于总衰减的1%。

当频率超过几十兆赫时，导体表面发生氧化会产生一种新的损耗--视在介质损耗，氧化层很薄（约几微米），频率低时（几兆赫以下），电流透入深度（见相关帖子）有几十微米，电流在氧化层流通的部分较小，氧化产生的影响不大；但频率高于几十兆赫时，投入深度较小，大部分电流在氧化层传输，氧化层的电阻率大于导体，使衰减增大，因此要尽可能的消除金属氧化。

楼主,很遗憾,这分资料论坛里有过好几份了,没有一点变化,请管理员删除.节约网络资源.

我这里有一份,IEC标准-96<射频电缆>第0部分:"详细规范设计指南".因该是最权威的了,从1946年7月到现在都没有改变过.上面的关于衰减的计算公式其参数要比你这个多很多,而且是可以根据材料不同查询的到的!和实际生产拟合非常好.任何结构有改变都可以反映出来,只是太烦琐,EXCEL功底不够的,比较困难得到.

楼主如果真是有心人,那么请告诉我们:Kρ1：内导体相对于国际标准软铜的高频电阻增大或减小的系数Kρ2：外导体相对于国际标准软铜的高频电阻增大或减小的系数,分别是什么值?或者具体到材料的取值问题,若答案有实用价值,可以使计算简化,我可以用100G交换,不甚感谢!

［xiaoyu8161 在 2007-8-15 19:38:51 编辑过］

还有我觉得需要纠正一下:tgδ：绝缘介质损耗角正切值（空气 - 0；PE - 0.0005；PVC - 0.05；FEP - 0.0002；Nylon - 0.009；PP - 0.0007）没错,可是实际生产中的该值不是一个定值,根据发泡的变化而变化,虽然不是很大,但对于高端频率时候的率减影响却不小,应该给出他与发泡的关系.我们想,最好是有一个经验的公式,或者曲线,不要已经有的理论公式,对生产帮助不大!

xiaoyu8161  爷们  牛     真是好东西啊

金属材料              系数Kρ

     银                           0.98

     铜（硬）              1.02

     铬铜                        1.09

     镉铜                        1.13

     铝                            1.28

     铍铜（软）           1.41

      锌                            1.88

    

谢谢搂主!我想知道双金属的系数,还有复合金属的系数,比方TC,CCS,CCA10,CCA15,SCCS!

暂时兑现楼主30G,谢谢楼主!

好专业，这个公式我不会用，测试衰减不是有机器的吗？人工计算好复杂

做这个主要是搞设计用的

此公式实用性不强，部分参数不好确定

请教楼上，有没有更直接的呢,谢谢!

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