我们生产了一根对绞屏蔽信号线，绝缘是微孔带绕包，对绞后绕包一层铝箔，然后将这对包铝箔的信号线进行了特性阻抗、衰减、传输延时、直流电阻、电容和对地电容不平衡的测试，频率为0.75~3MHz，其他项目都合格了，特性阻抗标准为120+/-12欧姆，实测为118~124欧姆。唯独频率范围内的衰减都不合格，是什么原因呢？<div>
</div>

衰减不合格是低频还是高频段？如低频段不过是导体直径偏小；如是高频段不过是绕包带问题，可能是绝缘变形或微孔太少（相当于发泡度不够，介电常数偏高）。先将导体改成走上偏差的试一下，如不行再改包带。

铝箔铝层不够厚，造成低频穿透，所以在3MHZ不合格，铝层厚度可以考虑35-50U左右

可以在原铝箔层上再绕包一层铝箔吗？如果可以，内外两层的金属面要接触吗？<div>或者我把原铝箔层除去，再重新绕包一层厚的铝箔？</div>

铝箔的厚度会对衰减有影响？？？哪位大神能从专业上讲解一下

sa571328:
铝箔铝层不够厚，造成低频穿透，所以在3MHZ不合格，铝层厚度可以考虑35-50U左右

<div>正解！</div>

同组线的长度控制一致，铝箔，收线张力的大小

学习了

謝謝分享

你需要登录才能发表，点击登录。