这个衰减不是很满意。 现在做的是86.5的电容    ID1.43 。   今天想通过提高发泡度降低电容到85.5来实现衰减变小。  结果不行。   本公司的3485发泡料不能再加温了。

大神们有什么办法能把衰减降低吗？ 

衰减图

看你这个数据来看, 估计也是这个线的衰减最佳状态, 如果通过减少电容, 那阻抗肯定会增大, 衰减当然会变好.

但看你的阻抗测试来说已经很接近上限111欧姆了, 测试都108.87欧姆.

建议如果你的阻抗测试数据稳定的话可以适当些增加绞距来改善衰减.

lls1112:

看你这个数据来看, 估计也是这个线的衰减最佳状态, 如果通过减少电容, 那阻抗肯定会增大, 衰减当然会变好.

但看你的阻抗测试来说已经很接近上限111欧姆了, 测试都108.87欧姆.

建议如果你的阻抗测试数据稳定的话可以适当些增加绞距来改善衰减.

感谢回复   之前的衰减可以做到10.5-11.5    工艺不变的情况下 衰减没以前好了    绞距从40放大到46还是不见改善   我还是感觉问题出在发泡线上

lls1112:

看你这个数据来看, 估计也是这个线的衰减最佳状态, 如果通过减少电容, 那阻抗肯定会增大, 衰减当然会变好.

但看你的阻抗测试来说已经很接近上限111欧姆了, 测试都108.87欧姆.

建议如果你的阻抗测试数据稳定的话可以适当些增加绞距来改善衰减.

包纸的阻抗数据在113之内都是可以的   因为经过总绞 编织 外被工序  阻抗值会下降5个左右

lls1112:

看你这个数据来看, 估计也是这个线的衰减最佳状态, 如果通过减少电容, 那阻抗肯定会增大, 衰减当然会变好.

但看你的阻抗测试来说已经很接近上限111欧姆了, 测试都108.87欧姆.

建议如果你的阻抗测试数据稳定的话可以适当些增加绞距来改善衰减.

HHHH0734:

包纸的阻抗数据在113之内都是可以的   因为经过总绞 编织 外被工序  阻抗值会下降5个左右

你的这个测试数据不是成品的？哪个工序？

lls1112:

看你这个数据来看, 估计也是这个线的衰减最佳状态, 如果通过减少电容, 那阻抗肯定会增大, 衰减当然会变好.

但看你的阻抗测试来说已经很接近上限111欧姆了, 测试都108.87欧姆.

建议如果你的阻抗测试数据稳定的话可以适当些增加绞距来改善衰减.

HHHH0734:

包纸的阻抗数据在113之内都是可以的   因为经过总绞 编织 外被工序  阻抗值会下降5个左右

lls1112:

你的这个测试数据不是成品的？哪个工序？

这是包纸工序的测试报告

happyjoe:

请问做的是半成品测试？线对间？

对的，这是包纸工序的测试报告

减低衰减的办法无非就以下几种(导体不变的情况下):

1. 增加绝缘外径, 减低电容, 提高阻抗, 来减低衰减

2. 降低绝缘的介电常数, 减少电容

3. 增加对绞及成缆节距.

游客:

减低衰减的办法无非就以下几种(导体不变的情况下):

1. 增加绝缘外径, 减低电容, 提高阻抗, 来减低衰减

2. 降低绝缘的介电常数, 减少电容

3. 增加对绞及成缆节距.

大神   能详细说下2吗   新手小白能理解1.3   不明白2如何操作

游客:

减低衰减的办法无非就以下几种(导体不变的情况下):

1. 增加绝缘外径, 减低电容, 提高阻抗, 来减低衰减

2. 降低绝缘的介电常数, 减少电容

3. 增加对绞及成缆节距.

HHHH0734:

大神   能详细说下2吗   新手小白能理解1.3   不明白2如何操作

意识是说，叫你去找介电常数低且稳定的材料，减小电容就是加大发泡度，也等于降低了介电常数

另外改善衰减不仅仅以上几点，比如有屏蔽的线，屏蔽也是可以改善衰减的，还有绝缘附着力，外观，延时差，测试环境等等

游客:

减低衰减的办法无非就以下几种(导体不变的情况下):

1. 增加绝缘外径, 减低电容, 提高阻抗, 来减低衰减

2. 降低绝缘的介电常数, 减少电容

3. 增加对绞及成缆节距.

HHHH0734:

大神   能详细说下2吗   新手小白能理解1.3   不明白2如何操作

FWP:

意识是说，叫你去找介电常数低且稳定的材料，减小电容就是加大发泡度，也等于降低了介电常数

另外改善衰减不仅仅以上几点，比如有屏蔽的线，屏蔽也是可以改善衰减的，还有绝缘附着力，外观，延时差，测试环境等等

谢谢大神指点