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[问题求助] 请问YJY23-26/35 3*50电力电缆为什么半成品试验通过而成品试验却通不过呢
P:2008-10-24 21:12:11
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详细情况如下:
近期本人朋友的单位生产了一批YJV22-26/35 3*50中高压交联电力电缆,,为了确保产品质量,对其生产的半成品(铜带绕包后)也进行了一次耐压试验(65kV 30min和局放试验,全部通过。但在成品例行试验过程中,却发现成品耐压击穿(大部分不到5分钟就发生了击穿),且击穿率较高。经本人对多个击穿点进行解剖,发现大部分属于黑色能道,也看不出有什么明显缺陷,本人也分析不出是什么原因所造成?另同时生产的同电压等级的大规格电力电缆(所用的主要原材料与3*50的一样)却能顺利通过成品试验。 50mm2导体是由管绞机所生产,导体根数为7根,本人也怀疑有可能属于导体毛刺所产生,但对击穿点解剖后也看不出。
为此,本人也十分纳闷,不能确定其发生问题的真正原因?请同行朋友帮助分析一下,产生以上问题的原因可能有哪些?不胜感谢!!!!
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P:2008-10-27 10:22:01
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我感觉50mm2的交联紧压铝导体若采用7/3.0的7芯导体结构,由于单丝较粗,紧压后毛刺、飞皮会很多,且内屏蔽挤出量要加大,保证1.0mm的厚度,才能避免内屏及绝缘嵌入。另外,由于50mm2导体相对大截面导体的外径小,所以同样的铝毛刺造成的导体电场畸变更严重,电场集中更明显,可能击穿的概率大些。因此,50mm2交联紧压铝导体最好采用19根结构。
至于为什么铜带屏蔽半成品通过实验,而成品电缆却击穿的现象,原因较难分析。我们公司也曾遇到类似的问题,咨询过一些资深工程师,大家得出的结论是:若排除因铜带屏蔽后几道工序造成的机械损伤原因,则很可能是刚挤出时间不久的交联线芯,便绕铜带进行半产品耐压试验,XLPE绝缘层内部已有的微小气隙类缺陷在半成品耐压试验时,处于临界击穿状态,勉强能通过试验,然而后道工序受到线芯温度变化以及内应力收缩的影响,并再次通过具有破坏性的成品耐压试验后,绝缘缺陷受激发而趋坏发展、直至击穿。
以上分析,个人见解,未必正确,谢谢!
[PLWH 在 2008-10-27 10:55:01 编辑过]