19.21  绝缘屏蔽的可剥离试验

    当制造方采用挤包的半导电屏蔽为可剥离绝缘屏蔽时，应进行本试验。

19.21.1  步骤

    试验应在老化前和老化后的样品上各进行三次，可在三个单独的电缆试样上进行试验，也可在同一个电缆试样上沿圆周方向彼此间隔约120°的三个不同位置上进行试验。

    应从老化前和按19.5.3老化后的被试电缆上取下长度至少250 mm的绝缘线芯以用作试验。

    在每一个试样的挤包绝缘屏蔽表面上从试样的一端到另一端向绝缘纵向切割成两道彼此相隔宽 （10±1）mm相互平行的刀痕。

    沿平行于绝缘线芯方向（也就是剥切角近似于180°）拉开长50 mm、宽10 mm的一条形带后，将绝缘线芯垂直地装在一拉力机上，用夹头夹在绝缘线芯的一端，另一端为10 mm条形带，夹在另一个夹头上。

    拉力分别加在绝缘和10 mm条形带上，拉动至少约100 mm长的距离，在剥切角近似于180°和速度为（250±50）mm/min条件下进行试验。

    试验应在（20±5）℃温度下进行。

    对未老化和老化后的试样应连续地记录其剥离力的数值。

19.21.2  要求

    从老化前后的试样绝缘上剥下挤包半导电屏蔽的剥离力应不小于4N和不大于45N，绝缘表面应无损伤，并无半导电屏蔽痕迹留在绝缘上。