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[USB] USB3.0产品衰减不过

P:2011-02-25 08:38:29

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我的USB3.0产品衰减测试时,在7G左右频率出现一个非常严重的畸变,导致不合格,不知大家有没有好的方法解决

Test method of damp heat aging - 湿热老化试验 (0) 投诉

P:2011-02-25 09:22:06

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估计是生产时张力的问题。

entrance facility - 引入设备 (0) 投诉

P:2011-02-25 09:42:41

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对绞绞距太长了,缩短一点就好了。

jet - 喷嘴,喷射器 (0) 投诉

P:2011-02-25 15:30:43

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绞距问题,俺曾经试过的。

Okoloy coated conductor - 奥科洛伊镀层导体<美国Okonite公司研制的一种铅合金镀层导体,具有优异的耐腐蚀性能> (0) 投诉

P:2011-02-28 12:04:45

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那对绞节距、包带覆盖率、总绞节距、编组节距按照什么样的关系配合比较好?

tempering oil - 回火油 (0) 投诉

P:2011-02-28 14:28:26

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以上问题不是绞距的问题,一般情况下或多或少都会有点,很难保证的。

试着调整工艺吧,没办法了。

HST - hot set test热变形试验,热延伸试验 (1) 投诉

P:2011-02-28 16:55:11

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可能还要多试几次工艺才行吧,这个东西只有自已一点一点的去改,改后再测,不要怕麻烦才行

drum take-up - 盘式收线装置 (0) 投诉

P:2011-03-01 14:15:19

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我之前有过一次,如果加工时铆铁壳上的线夹时太紧,衰减也会影响很大,后来铆的松一点,不能使芯线有一点伤到就可以了。不知道对你有没有帮助.

mpm - meter per minute米/分 (0) 投诉

P:2011-03-01 15:22:29

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LZ 最好能把测试报告传上来,有了数据和图形,也就有了分析的依据,大家也不用根据经验猜了

higher order path termination - 高阶路终端 (0) 投诉

P:2011-03-12 17:23:11

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对绞绞距 P≦18    总绞 P≦50

laying-up reel - 成缆用线盘 (0) 投诉

P:2011-03-21 21:02:26

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大侠,小弟想问一个问题,为什么总绞距的绞距越小,衰减越好了?能帮小弟解决一下吗?

parabolic profile - 抛物线型剖面 (0) 投诉

P:2011-03-27 19:57:16

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LZ不知你的问题有无解决? 我也在这个频率出现了

hot-blast furnace - 热风炉 (0) 投诉

P:2011-03-31 09:00:41

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我的看法是,在你的对绞和集合中出出了问题。

不一定是绞距长短的问题,而可以理解成结构的稳定性吧。不知是否有帮助

DIU - digital interface unit数字接口单元 (0) 投诉

P:2011-05-02 10:59:57

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不能说绞距没有问题,长度的长短也会影响衰减,可以试试缩短绞距,如果还不行再看看你的材料结枃。

interface unit - 接口单元 (0) 投诉

P:2011-05-19 11:18:07

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我也想知道

electro-tinning - 电镀锡 (0) 投诉

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