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USB2.0 28#+22#衰减不合格? - 无图版

gcb186 --- 2017-09-20 11:20:25

1

USB2.0 28#+22#衰减不合格?线材规格:OD:4.5[(7/0.127*0.85*1P白绿HDPE)+(17/0.16*1.25*2C/红黑)+AL+7/0.12+64/0.10CCS编织]不良图片:见附件


 

111.png



WHN --- 2017-09-20 11:58:04

2

节距多少
moveitgogo --- 2017-09-20 13:36:44

3

测试长度相对来讲长了。
gcb186 --- 2017-09-20 14:30:17

4

白绿绞距做过25,也做过32mm都不行<div>长度3.09M</div>
gcb186 --- 2017-09-20 14:31:44

5

起始频率结束频率规格上限规格下限第 1 对
12 12 -- -0.67 -0.825
12 400 -- -0.67→-5.80 -0.825
MHz MHz dB dB Fail


Ponfy --- 2017-09-20 14:37:57

6

导体要走正公差,导体绞距6-7看看行不,我们可以过三米
gcb186 --- 2017-09-20 15:20:20

7

绞距小了更不好?不知道是什么原因,<div>把白绿芯线改为0.75~0.8是不是会对衰减有帮助,请教各位专家?</div>
moveitgogo --- 2017-09-20 16:15:35

8

仔细看了下你的图形,起始点的衰减较大,可以考虑把测试设备较正下后再测试。<div>
</div>
迷儿 --- 2017-09-20 17:10:06

9

坐等各路仙佛登场~~
DOE --- 2017-09-20 18:46:55

10

特性阻抗多少了?

DOE --- 2017-09-20 18:53:00

11

如果特性阻抗下限,可以适当的增加绝缘直径。

如果特性阻抗已经偏上限了,增加导体的直径。

集合的节距在特定的范围内改善衰减的作用不大,导体节距也一样。

另外按照测试的图形,在400MHz就有dip,这个很不正常,建议优先排除测试的问题。

Kitic --- 2017-09-20 22:07:38

12

我们的7/0.127的都是用0.13的来绞合,低频走导体,一般都是导体绞合有问题,绞铜时张力不宜大,且要正规绞合。
sihe2012 --- 2017-09-20 23:27:43

13

看图是测试不良造成,线没毛病;28#/1P镀锡铜我刚做一条可以过四米
gcb186 --- 2017-09-27 08:48:05

14

特性阻抗走上限,
gcb186 --- 2017-09-27 10:10:29

15

现在我把芯线ID由原来0.85改为0.8,再次测试衰减OK,但是延迟差NG,标准100,实际测试521,什么原因?
moveitgogo --- 2017-09-27 15:24:59

16

gcb186:
现在我把芯线ID由原来0.85改为0.8,再次测试衰减OK,但是延迟差NG,标准100,实际测试521,什么原因?
<div>这能有什么原因呢,说明制程能力不好啊!</div><div>影响延迟差的因素很多,在论坛里找找相关的解决办法,以前有讨论过。</div>
apologize --- 2017-09-27 17:24:13

17

阻抗做大,一定要大大大大大大
bida --- 2020-08-03 19:07:24

18

要看特性阻抗是多少。阻抗大才把线径做小。

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