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發泡度與特性阻抗,衰減! - 无图版
hjj1983 --- 2007-01-29 13:54:08
1
lsr66 --- 2007-01-29 22:11:48
2
rainy0910 --- 2007-01-30 10:58:30
3
可以从三个方面进行考虑:
1.可以相应增大导体,尽量用上限规格
2.适当的减小芯线ID
3.提高屏蔽率
bridge --- 2007-01-30 11:01:23
4
是的,這個問題,就是需要經驗了。發泡度和阻抗及衰減是個相對的問題。
同轴电缆 --- 2007-01-30 11:21:01
5
在不增加成本的情况下,我们做法的是:
1、发泡外径减小到下公差。
2、发泡度尽量大到特性阻抗刚好为标称值的上公差。
hjj1983 --- 2007-01-30 11:38:25
6
ottolee --- 2007-01-30 12:02:15
7
cqwang1 --- 2007-01-30 13:30:01
8
那要看是高频还是低频衰减,低频衰减,主要取决于导体,对其铜含量,电导电率进行控制才能控制低频衰减,:高频衰减主要是介质衰减,不但要控制发泡料与成核剂的质量,,配比也有影响;如果这些都不可改变,那么就通过控制发泡度,控制阻抗走上限,能够提高衰减指标.这是同轴电缆生产过程中常见的问题.
liugangjian --- 2007-01-31 09:12:17
9
hjj1983 --- 2007-01-31 09:58:09
10
michael --- 2007-01-31 11:54:01
11
增大附着,从而减弱电晕发生的
hjj1983 --- 2007-01-31 15:02:27
12
lsr66 --- 2007-01-31 15:41:30
13
继续学习了解
michael --- 2007-02-01 19:36:30
14
既是减少导体与绝缘间间隙中空气
changji --- 2007-02-02 12:33:43
15
发泡外径减小到下公差。
此方法改善效果非常有限,我们早尝试了
余泽平 --- 2007-02-02 12:57:51
16
其实这里面要着重控制生产工艺及各项参数的稳定性
例如impedance and capacitance
前者基本上是一上固定要求,后者是工艺中直观的一个重要参数
你能够想办法在生产中将这两个参数相对稳定
基本上attenuation,skew,eye diagram等参数也会有所改善
其实这也要求我们在生产过程中
导体,绝缘,绞合,押出不管是材料性能,及工艺参数都要求具有极高的一致性,才得以解决
hjj1983 --- 2007-02-02 13:56:14
17
chenfeng --- 2007-03-05 18:34:22
18
卓一航 --- 2007-03-06 13:58:53
19
michael --- 2007-03-06 14:49:32
20
我赞成以下几位做法建议:
(1)hjj1983
線纜研發
(2) | |
chenfeng 東莞電線,考虑问题时要兼顾才可以的 |
yr112503 --- 2007-03-16 18:35:50
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请教20276线材,特性阻抗规定75欧正负5欧的标准源自那些文献
charlie919 --- 2007-03-18 20:54:55
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20276是UL安规,不会定义阻抗等电气特性的要求的
楼上说的阻抗要求应该是某产品系列的业界规范
charlie919 --- 2007-03-18 21:04:14
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发炮度影响的是介电常数,由此来改善衰减,delay等特性
阻抗同介电常数有关系,但可以通过OD来调整,需利用平时积累的经验(最好有长期总结出来的经验公式------高频没有绝对正确的公式,只有经验)
Skew实际上是两根线的特性差别,也就是说你做得再烂,只要两根线一样烂,Skew就会很小。因此要保证skew,首先须保证制程的稳定性
加Skin的作用是减少后制程对芯线的损害,本身对特性没影响。另有Skin-foam-skin,是为了增加绝缘内层与导体的附着力
36684311 --- 2007-03-20 15:28:35
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yangguohua --- 2007-07-21 15:13:20
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zhangbiao --- 2007-12-20 11:57:44
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各位前辈: 请问超五类和六类网线的衰减取决于哪些因素,因在测试中导体小的反而衰减好(芯线料是实心PP)